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梅特勒托利多-分析天平

梅特勒托利多-分析天平

型    號: XPE
報    價:
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梅特勒電子天平,梅特勒托利多-分析天平StaticDetect™ 靜電檢測和靜電消除技術,加上先進的 SmartGrid 網格秤盤為您提供具有重復性的可靠結果。 創新型 StatusLight™ 分析天平就緒指示燈以及利用 TestManager™ 測試管理功能輕松進行日常測試可提高您的質量管理且易于合規。

  • 產品描述

梅特勒托利多-分析天平技術參數:

型號

量程[g]

可讀性[mg]

zui小稱量值(USP),典型值[mg]

重復性[mg]

線性誤差

XPE 105

120.0 0.01 14.0 0.015 0.1
XPE 204 220.0 0.1 82.0 0.05 0.2
XPE 205DR 120.0 0.01,0.1 14.0 0.015 0.15
XPE 105DR  41.0,220.0  0.01mg/0.1mg  14.0  0.015  0.15
XPE 304  320  0.1 mg  82.0  0.08  0.4

 

梅特勒托利多-分析天平性能特點:

*性能

StaticDetect™ 靜電檢測和靜電消除技術,加上先進的 SmartGrid 網格秤盤為您提供具有重復性的可靠結果。 創新型 StatusLight™ 分析天平就緒指示燈以及利用 TestManager™ 測試管理功能輕松進行日常測試可提高您的質量管理且易于合規。

 

輕松滿足法規

StatusLight 狀態指示燈使用顏色直觀地顯示天平的狀態:分析天平綠色表示準備就緒,分析天平黃色表示警告,分析天平紅色表示錯誤。 StatusLight 狀態指示燈清晰地顯示天平是否已準備好開始稱量任務。

 

狀態指示燈

 分析天平狀態指示燈清晰地顯示分析天平是否已準備好開始稱量任務。分析天平綠色表示天平準備運行,黃色表示天平應通過 TestManager 連接至日常測試,紅色表示應對天平失去平衡等錯誤立即采取糾正措施。 
分析天平觸摸屏,可在 Test-Manager™ 嵌入式軟件中進行 SOP 測試。分析天平無論何時進行測試,分析天平都會在屏幕上顯示消息,您只需遵循分步式指導信息操作即可。

 

zui大限度地減少靜電荷

我們的 StaticDetect 靜電檢測技術可檢測樣品或其容器上的靜電荷。 如果稱量錯誤超過用戶定義的限值,則出現警告;然后可以采取防靜電措施。 為了獲得過程安全性,可鎖定稱量結果的發布。

 

用戶引導過程管理

梅特勒-托利多的 LabX® 實驗室軟件可在分析天平觸摸屏上顯示的靈活的 SOP 用戶指南。 分析天平利用自動數據處理、計算和報告,具有 LabX 軟件的分析天平可以輕松實現過程安全性和可追溯性要求,并支持您實現無紙化實驗室。

 

結果可靠

超越系列分析天平將獲得的梅特勒-托利多稱量技術與數十年的稱量專業知識相結合,確保您快速、可靠地獲得*的稱量結果!

 

無需接觸天平的操作

超越系列分析天平采用人體工程學設計,旨在盡量使您的生活變得輕松。 SmartSens™ 紅外感應器可使您揮一下手即可進行操作,使稱量任務更加輕松,避免交叉污染問題(例如:打開/關閉防風罩門)。

 

易于清潔

分析天平憑借*的網格秤盤和可在數秒鐘內拆卸的防風罩,分析天平始終確保稱量區域清潔、分析天平安全。

 

基于RFID的操作—滴定儀

現代化移液器有內置的 RFID 芯片,可存儲大量信息:移液器 ID、移液器容量、zui后校準日期和下一校準日期等等。 利用新的集成 RFID 閱讀器,您可以在幾秒鐘內進行檢查,并在天平終端上查看報告全文 — 快速、無誤。

 

基于RFID的操作—滴定

在分析天平上安全地輸入滴定樣品信息,并將其輕松地通過滴定燒杯和 SmartSample RFID 標簽傳輸至滴定儀。

 

每個數字都重要

在稱量催化劑、酶或高價值電子元件時,分析天平可讀性是提高準確度的一個重要因素。了解更多有關梅特勒-托利多手動質量比較器如何提高工業應用zui高精確度的信息。

 


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